Genellikle XRD olarak kısaltılan X-Işını Kırınımı, kristal malzemelerin yapısını analiz etmek için kullanılan tahribatsız bir test yöntemidir.
X-ışını floresansı (XRF), yüksek enerjili X-ışınları veya gama ışınları ile bombardıman edilerek uyarılmış bir malzemeden karakteristik "ikincil" (veya floresan) X-ışınlarının emisyonudur. Bu fenomen, özellikle metallerin, camların, seramiklerin ve yapı malzemelerinin araştırılmasında ve jeokimya, adli bilim, arkeoloji ve resimler gibi sanat nesnelerinde araştırmalarda olmak üzere elementel analiz ve kimyasal analiz için yaygın olarak kullanılmaktadır.
Malzemeler kısa dalga boylu X ışınlarına veya gama ışınlarına maruz kaldıklarında bileşen atomlarında iyonlaşma meydana gelebilir. İyonizasyon, atomdan bir veya daha fazla elektronun fırlatılmasından oluşur ve atomun iyonlaşma enerjisinden daha büyük bir enerjiyle radyasyona maruz kalması durumunda meydana gelebilir.
X-ışınları ve gama ışınları, atomun iç yörüngelerinden sıkıca tutulan elektronları dışarı atacak kadar enerjik olabilir. Bir elektronun bu şekilde çıkarılması, atomun elektronik yapısını kararsız hale getirir ve daha yüksek yörüngelerdeki elektronlar, geride kalan boşluğu doldurmak için alt yörüngeye “düşer”. Düşerken, enerjisi ilgili iki yörüngenin enerji farkına eşit olan bir foton şeklinde enerji açığa çıkar. Böylece malzeme, mevcut atomların enerji özelliğine sahip radyasyon yayar.
XRay Analizi söz konusu olduğunda Science by EUROLAB, 25 yılı aşkın endüstriyel laboratuvar tecrübesi, uzman ekibi ve son teknoloji araçları ile sizlere en iyi hizmeti sunmayı taahhüt eder.
