MIL-STD 883 kararlı durum ömrü testi, uzun süreler boyunca belirtilen koşullara maruz kalan cihazların güvenilirliğini gösterir. Testler, sonuçların erken başarısızlıkların veya "bebek ölümlerinin" özelliği olmadığından emin olmak için yeterince uzun sürmelidir. Başarısızlık oranının zamana göre önemli değişikliklerini göstermek için testi tamamlamadan önce sonuçların periyodik gözlemleri yapılmalıdır.
Daha kısa aralıklarla veya daha düşük streslerde geçerli sonuçlar, hızlandırılmış test koşulları veya yeterince büyük bir numune boyutu gerektirir. Bu, numunedeki hataları algılamak için makul bir olasılık sağlar. Bu, numunenin alındığı parti(ler)deki potansiyel arızaların dağılımına karşılık gelecektir. Aşağıda sunulacak olan test koşullarının bu hususları yansıtması amaçlanmıştır.
Bu test, bir cihazın genel kapasitesini değerlendirmek amacıyla kullanılabilir. Ayrıca, yüksek güvenilirlik gerektiren gelecekteki cihaz uygulamalarını desteklemek için bir cihaz yeterlilik testi olarak da kullanılabilir. Bu durumlarda, test koşulları, cihazın maksimum çalışma veya test derecelendirmelerini temsil edecek şekilde seçilmelidir. Buna elektrik girişi, yük ve önyargı ve ilgili maksimum çalışma sıcaklığı veya diğer belirtilen ortam dahildir.
Kuruluşumuz, tam donanımlı bir güvenilirlik test laboratuvarıdır. Test mühendislerimiz, önemli MIL-883 kararlı durum ömür testi deneyimine sahiptir. Aşağıdaki bilgiler, Yöntem 1005.11 MIL-STD 883 güvenilirlik testinin test gereksinimlerinin bir özetini sağladığı için son derece tekniktir.
Kararlı Durum Laboratuvarında Hangi Ekipmanlara İhtiyaç Duyulur?
Tüm MIL-883 güvenilirlik testleri, tam donanımlı bir güvenilirlik laboratuvarında gerçekleştirilmelidir. Tam donanımlı bir kararlı durum ömür testi laboratuvarı aşağıdakileri içerir. Uygun soketler veya montaj araçları gereklidir. Bu, belirli konfigürasyon sırasına göre cihazların terminallerine sağlam bir elektriksel temas kurulmasına yardımcı olur.
Montaj araçları, iletim yoluyla cihazdan dahili olarak yayılan ısıyı uzaklaştırmamalıdır. Isı, cihaz terminalleri, gerekli elektrik kontakları ve gaz veya sıvı odası ortamı aracılığıyla çıkarılabilir. Cihaz, cihazın terminallerinde belirtilen önyargıların korunmasını sağlamalıdır. Ayrıca, belirtildiğinde, giriş uyarımı veya çıkış yanıtının izlenmesini sağlamalıdır.
Güç kaynakları ve akım ayar dirençleri, test boyunca minimum belirtilen çalışma koşullarını sürdürebilmelidir. Kaynak voltajlarında, ortam sıcaklıklarında vb. normal değişikliklere rağmen bu koşulları sürdürebilmelidirler. Güç kaybı meydana geldiğinde, test aparatı, her cihaz için yaklaşık ortalama güç kaybı sonuçlanacak şekilde düzenlenmelidir.
Test devrelerinin, bireysel cihaz özelliklerindeki normal varyasyonları telafi etmesine gerek yoktur. Ancak, diğer cihazlar için testin etkisini reddetmeden bir grupta anormal cihazlara izin vermelidirler.
En İyi Güvenilirlik Testinde Hangi Prosedür Sonuçlanır?
Mikroelektronik cihaz, belirtilen test sıcaklığında belirtilen süre boyunca belirtilen test koşuluna tabi tutulur. Belirtilen ara noktalarda ve bitiş noktalarında gerekli ölçümler yapılır. Sertifikalı ve kalifiye QML üreticileri, zamanı veya koşulu değiştirebilir. Değişiklik, üreticinin QM planında yer almalı ve cihaz üzerinde “Q” sertifika tanımlayıcısı işaretlenmelidir.
Kurşun, saplama veya kasaya monte cihazlar, normal montaj konfigürasyonlarında kablolar, saplamalar veya kasa ile monte edilir. Bağlantı noktası, belirtilen ortam sıcaklığından daha az olmayan bir sıcaklıkta tutulur. Testten önce seçilen test koşulu, süresi, numune boyutu ve sıcaklık kaydedilir ve tüm testi yönetir. Test panoları, birden fazla cihazda veya çıkış pininde ortak olan yük dirençlerini kullanamaz.
En İyi Kararlı Durum Ömrü Testi için Uygun Test Süresi Nedir?
Cihazların standart ömrü test edilirken, test süresi 125 °C'de minimum 1.000 saattir. Belirtilen süre sonunda cihaz test koşullarından çıkarılır ve standart test koşullarına ulaşması sağlanır. Bu test belirli bir lambdaya uygunluğu göstermek için kullanıldığında, belirtilen sürede sona erebilir. Veya bu belirtilen test süresinden önce gerçekleşirse ret noktasında sona erebilir.
Hızlandırılmış yaşam süresi test edilirken, belirtilen ortam sıcaklığı için süre 125 °C'de 1.000 saate eşittir. Belirtilen test süresinden 72 saat sonra cihaz belirtilen test koşullarından çıkarılır. Ardından, sapma ortadan kaldırılmadan standart test koşullarına ulaşmasına izin verilir. Cihaz soğuma pozisyonlarına hareket ettirildiğinde bir dakika süreyle Bias kesintisi, biasın ortadan kalkması olarak kabul edilmez.
Kararlı Durum Ömrü Uygunluk Testi için Hangi Test Sıcaklıkları Kullanılır?
Belirtilen test sıcaklığı, odanın çalışma alanındaki tüm cihazların maruz kaldığı minimum ortam sıcaklığıdır. Bunu sağlamak için hazne profilini, yüklemeyi, kontrol/izleme cihazlarının konumunu ve hava veya diğer uygun gazların/sıvıların akışını ayarlayın. Hazne kalibrasyonu, çalışma alanındaki en soğuk noktayı yansıtan gösterge sensörü ile tam yüklü, elektriksiz bir konfigürasyon gerektirir. Güç seviyesinden bağımsız olarak, cihazlar, maksimum nominal çalışma sıcaklığında ömür testine tabi tutulabilmelidir.
Hibrit cihazlar için ortam veya kasa ömrü test sıcaklığı belirtilir. Kasa sıcaklığı ömrü testi, cihaz için belirtilen maksimum çalışma durumu sıcaklığında (TC) gerçekleştirilir. Cihaz, belirtilen maksimum çalışma sıcaklığında, voltajda ve yükleme koşullarında ömür testine tabi tutulmalıdır. Kasa ve bağlantı sıcaklığı normalde ortam sıcaklığından çok daha yüksektir.
Devre, maksimum anma bağlantı sıcaklığı ve polimerik malzemelerin sertleşme sıcaklığı aşılmayacak şekilde yapılandırılmalıdır. Maksimum bağlantı sıcaklığı belirtilmemişse, maksimum 175 °C olduğu varsayılır. Belirtilen test sıcaklığı, odadaki tüm cihazlar için korunması gereken minimum ortam veya kasa sıcaklığıdır. Bunu sağlamak için hazne profilini, yüklemeyi, kontrol/izleme cihazlarının konumunu ve hava veya diğer uygun gazların/sıvıların akışını ayarlayın.
Hızlandırılmış ömür testi için, aksi belirtilmedikçe minimum ortam test sıcaklığı +175 °C'dir. Hızlandırılmış test normalde cihazın maksimum nominal çalışma bağlantı sıcaklığından daha yüksek sıcaklıklarda gerçekleştirilir. Bu nedenle cihazın termal kaçak durumuna girmemesine dikkat edilmelidir.
Dahili termal sınırlamaları olan cihazlar için özel hususlar dikkate alınır. Bu cihazlar için, daha yüksek bir sıcaklıkta uzun süre maruz kalma, uzun vadeli çalışma güvenilirliğinin gerçekçi bir göstergesini sağlamaz. Termal kapatma ile donatılmış cihazlar için, çalışma ömrü testi ortam sıcaklığında yapılacaktır. Bu sıcaklıkta, en kötü durum bağlantı sıcaklığı, en kötü durum termal kapatma eşiğinin en az 5°C altındadır.
MIL-STD 883 Kararlı Durum Ömrü Testi söz konusu olduğunda Science by EUROLAB, 25 yılı aşkın endüstriyel laboratuvar tecrübesi, uzman ekibi ve son teknoloji araçları ile sizlere en iyi hizmeti sunmayı taahhüt eder.
